貴金属の薄めっき、厚めっき、精密微細部めっきなど各種めっきの他、樹脂上の塗装など特殊被膜も非破壊で測定。対話式で操作が簡単。カウント補正が出来るため、ＧＭ管のウオームアップ無しで高精度の測定が可能。また、マルチキャリブレーションが、２〜９点まで可能。

・測定範囲：０．０１マイクロｍ〜数ｍｍ
・メモリー：１６ｃｈ、８０００データ
・測定時間：１〜９９９秒
・モード：膜厚測定。ベータ線カウント測定。合成組成比測定。
・寸　法：３３７＊２８０＊１８０
・重　量：５.４ｋｇ

　PROBE SYSTEM

　MEASURING TABLE GB-4

　ISOTOPE

　MEASURING TABLE MS-10

PROBE GUIDE MS-11

　PROBE GUIDE RF-180°

　PROBE GUIDE RF-5

　　PROBE GUIDE RF-120°

　THICKNESS STANDARD

PROBE GUIDE SPG

PROBE GUIDE GB-3